Recientemente, el Laboratorio Conjunto de Física de Láseres de Alta Potencia, el Instituto de Óptica y Maquinaria de Precisión de Shanghai (SIPM) y la Academia de Ciencias de China (CAS), ha propuesto un método de calibración interferométrica de exposición única para lentes difractivas de gran apertura, que proporciona un fuerte apoyo. para la aplicación de ingeniería de lentes difractivas de gran apertura. Los resultados se publicaron en Optics Letters como "Medición absoluta de las propiedades de enfoque de una lente difractiva de gran apertura". Letras de Óptica.
En comparación con la lente de enfoque refractiva, el elemento óptico difractivo tiene un diseño flexible, una gran apertura, un peso ligero, es adecuado para varias bandas de longitud de onda y es capaz de realizar funciones ópticas complejas, y el tamiz de fotones y la lámina de cinta son los representantes típicos. de la lente difractiva. Teniendo en cuenta que los elementos difractivos constan de una gran cantidad de microestructuras, las desviaciones son inevitables durante el procesamiento, por lo que es necesario calibrar el rendimiento antes de su uso.
Figura 1. Trayectoria óptica de medición de una lente difractiva de gran diámetro
En este estudio, los investigadores utilizaron como referencia la luz de fondo natural de la lente difractiva de gran diámetro, que ingresó al sistema interferométrico de corte junto con el haz enfocado. A partir de los interferogramas registrados por el detector se utilizó el análisis de Fourier para obtener el gradiente del frente de onda del haz enfocado con respecto a la luz de fondo, luego se utilizó el método modal para recuperar el frente de onda transmitido y finalmente la distancia focal y el punto focal. La forma de la lente difractiva se calculó numéricamente. Los resultados experimentales de la lente difractiva de apertura de 210- mm están de acuerdo con las expectativas teóricas. En los telescopios interferométricos espaciales se pueden utilizar cortes de banda de ondas de apertura ultragrande y tamices de fotones. Los tamices de fotones que dividen el haz con estructuras autoportantes son adecuados para obtener imágenes enfocadas de EUV y rayos X suaves.
Figura 2. Interferómetro de corte de desarrollo propio con resultados experimentales medidos
